關(guān)于全儀
射頻微波測試
軟件定制
晶圓測試
應(yīng)用案例
新聞資訊
聯(lián)系我們
高速電纜裸線SI性能的“裸線系列治具”
IME2021第十六屆中國國際微波及天線技術(shù)展覽會(huì)
5G對(duì)測試測量提出的新要求
如何測試USB Type-C
“全儀測控”可提供軟件定制服務(wù),根據(jù)客戶要求可提供包含:智能化產(chǎn)品測試、測試數(shù)據(jù)報(bào)表、ERP對(duì)接等多種測試需求。以各類型高速線纜的特性測試為例,可提供全面的測試參數(shù)服務(wù)能力
09-04
2021
任何高速設(shè)計(jì)的一個(gè)重要部分是確??梢栽谥圃旌筒僮鬟^程中成功對(duì)其進(jìn)行測試。由于這些測試是在PCB設(shè)計(jì)過程的下游進(jìn)行的,因此通常沒有正確,徹底地將它們視為該過程的一部分......
05-03
De-embedding是用來消除DUT Board到DUT之間線路的干擾的,主要是用在測量RF的S參數(shù)之前,從而得到DUT的真實(shí)阻抗。
copyright © 2021 全儀測控(深圳)有限公司 all rights reserved. 粵ICP備2021019265號(hào)版權(quán)申明:本網(wǎng)站圖片及文件僅供用戶查看、下載、保存,未得到“全儀測控”授權(quán)的情況下不能用于商業(yè)用途,違規(guī)使用本網(wǎng)站的內(nèi)容,全儀將通過法律途徑索賠。
客服1