教學(xué)/科研
各種射頻微波的技術(shù)發(fā)展，離不開(kāi)的科研團(tuán)隊(duì)的理論研究；而射頻微波的行業(yè)應(yīng)用，也同樣離不開(kāi)操作實(shí)踐人員的實(shí)際操作。因此，在射頻微波的教學(xué)/科研領(lǐng)域，同樣也需要實(shí)物的測(cè)試測(cè)量，可是，測(cè)試測(cè)量工作可沒(méi)想象中的那么簡(jiǎn)單，“全儀測(cè)控”為教學(xué)/科研領(lǐng)域的測(cè)試需求提供了更豐富的測(cè)試方案選擇......
傳統(tǒng)射頻線(xiàn)纜的測(cè)試方法測(cè)試項(xiàng)很多，花費(fèi)的時(shí)間很長(zhǎng)，耗費(fèi)的人力也很大，期間還需要很多專(zhuān)業(yè)的測(cè)試培訓(xùn)方可進(jìn)行。縱然如此，實(shí)際測(cè)試的結(jié)果準(zhǔn)確度卻往往差強(qiáng)人意，例如：
- 測(cè)試效率低下，需人工手動(dòng)設(shè)置儀器參數(shù)，連接檢測(cè)，人員難培訓(xùn)，出錯(cuò)率高；
- 由于測(cè)試數(shù)據(jù)需人為記錄或?qū)С?，測(cè)試參數(shù)準(zhǔn)確性較低，工作效率低下；
- 數(shù)據(jù)保存功能受限，利用網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試一般用戶(hù)需要自行導(dǎo)出數(shù)據(jù)打印存儲(chǔ)，數(shù)據(jù)的長(zhǎng)期保存難以實(shí)現(xiàn)，同時(shí)很難實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)的二次分析利用。
因此，尋求將射頻測(cè)試和自動(dòng)化技術(shù)結(jié)合的方法，對(duì)于教學(xué)科研領(lǐng)域同樣有很現(xiàn)實(shí)的意義，全儀測(cè)控?zé)o疑是此領(lǐng)域的領(lǐng)軍者，全儀的產(chǎn)品可以實(shí)現(xiàn)以下功能：
1. 本軟件可支持Keysight、Rohde&Schwarz，Tektronix、Anritsu（安立）、Ceyear（思儀） 等主流廠家的各型矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，并可根據(jù)客戶(hù)要求定制支持其他型號(hào)的網(wǎng)絡(luò)分析儀、示波器等測(cè)試儀器。
2. 軟件可根據(jù)使用的儀器，自動(dòng)識(shí)別：儀器品牌、型號(hào)、端口數(shù)等信息，搭配我司的矩陣開(kāi)關(guān)，自動(dòng)配置測(cè)量參數(shù)。
3. 支持豐富的測(cè)試參數(shù)，例如：
- CATV線(xiàn)材測(cè)試軟件，可測(cè)試：線(xiàn)材阻抗、插損等參數(shù)；
- USB2.0、USB3.0、HDMI線(xiàn)材測(cè)試軟件，可測(cè)試：線(xiàn)材阻抗、延時(shí)、對(duì)內(nèi)差分延時(shí)、阻抗等參數(shù)；
- 網(wǎng)分?jǐn)?shù)據(jù)記錄軟件，可測(cè)試：曲線(xiàn)、MARK點(diǎn)、極值點(diǎn)、左值點(diǎn)、右值點(diǎn)等參數(shù)；
- 基站振子天線(xiàn)測(cè)試軟件，可測(cè)試：MARK點(diǎn)、測(cè)試圖片等參數(shù)；
- 智能天線(xiàn)測(cè)試軟件，可測(cè)試：注波、隔離、相位、幅度平衡度、相位平衡度等參數(shù)；
- TDR測(cè)試軟件，一鍵觸發(fā)記錄TDR測(cè)試數(shù)據(jù)等；
4. 可生成定制化測(cè)試報(bào)告，并可擴(kuò)展支持測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)系統(tǒng)。
5. 可支持全儀測(cè)控的多端口射頻/微波開(kāi)關(guān)矩陣等測(cè)試配件，進(jìn)一步大幅度提高測(cè)試效率。
